多重扩增测序技术具有原理简单、通量高的特点，是对于中等数量位点（10-50），较大样本量（>200）的高性价比芯片数据验证方案。本方案采用独特的多重BSP扩增试剂与多重BSP引物设计相结合的方案，可以得到目的DMP位点或DMR区域的甲基化修饰细节，可在单碱基分辨率下分析甲基化修饰程度与甲基化单体型结果。